发明名称 |
等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备 |
摘要 |
本发明提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备,该检测方法包括以下步骤:获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像;在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较;根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷,并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断整个等离子体显示屏是否存在荧光粉涂布缺陷。其中,在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较的步骤避开了现有技术中使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对判断的方法。这样,就避开了由于标准模板上具有缺陷而导致误判断的情况。 |
申请公布号 |
CN101800142A |
申请公布日期 |
2010.08.11 |
申请号 |
CN201010178261.4 |
申请日期 |
2010.05.11 |
申请人 |
四川虹欧显示器件有限公司 |
发明人 |
陈超 |
分类号 |
H01J9/42(2006.01)I |
主分类号 |
H01J9/42(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚 |
主权项 |
一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像;在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较;根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。 |
地址 |
621000 四川省绵阳市经济开发区绵州大道中段186号长虹工业园 |