| 发明名称 | 一种荧光材料激发测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种荧光材料激发测量装置。包括暗箱，暗箱在与样品垂线夹45度角的方向上设置一个环形光源或多个光源作为激发光源，工作试样盘和发射光接收装置；激发光源、样品和发射光接收装置构成CIE 45/0照明观测条件；利用光源与工作试样盘之间的可调光阑、滤色片和监视探测器，能够方便准确地调节激发光照度或辐照度水平，甚至可调节激发光光谱成份。本发明的荧光材料激发装置成本低，体积小，能够方便准确地调节激发光照度和光谱，易实现精度较高的荧光材料发光特性的测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101799325A | 申请公布日期 | 2010.08.11 |
| 申请号 | CN201010039747.X | 申请日期 | 2010.01.14 |
| 申请人 | 杭州远方光电信息有限公司 | 发明人 | 潘建根 |
| 分类号 | G01J1/58(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/58(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种荧光材料激发测量装置，其特征在于包括暗箱(1)，在暗箱(1)内设置激发光源(2)、放置被测荧光材料的工作试样盘(4)、发射光接收装置(6)和可调光阑(10)；所述的激发光源(2)位于以所述的工作试样盘(4)的中心为顶点、与工作试样盘(4)的中心轴线(3)成一定夹角度的空间方向所形成的锥面(11)上，且激发光源(2)为一个环形光源或多个光源组成；所述的发射光接收装置(6)位于工作试样盘(4)的中心轴线(3)上，且面对被测荧光材料；在激发光源(2)与工作试样盘(4)之间的光路上设置用于调节入射到工作试样盘(4)表面的激发光的辐射照度和/或辐射光谱的可调光阑(10)。 | ||
| 地址 | 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号 | ||