发明名称 | 用于各向异性纹理过滤的较短印迹 | ||
摘要 | 缩短印迹是一种用于减少经各向异性过滤的纹理样本的数目以确定关联于一图形片断的一纹理值的技术。减少经各向异性过滤的纹理样本的数目会减少读取的纹理样本的数目并简化过滤计算。可编程旋钮用于在纹理空间中缩短一像素的印迹,从而减少在各向异性过滤期间使用的纹理样本的数目。这些旋钮允许用户确定改善的纹理图性能与各向异性纹理过滤质量之间的一平衡。 | ||
申请公布号 | CN1950851B | 申请公布日期 | 2010.08.11 |
申请号 | CN200580014338.1 | 申请日期 | 2005.03.28 |
申请人 | 辉达公司 | 发明人 | 沃尔特·E·多诺万;保罗·S·赫克伯特 |
分类号 | G06T15/20(2006.01)I | 主分类号 | G06T15/20(2006.01)I |
代理机构 | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人 | 董巍;顾珊 |
主权项 | 一种减少用于各向异性纹理图过滤的纹理样本的一数目的方法,其包含:接收一对数比值,其中所述对数比值通过使用像素的印迹在纹理空间中的长轴长度和短轴长度来产生;修改所述对数比值以产生一第一修改对数比值;和基于所述第一修改对数比值来确定将要过滤的纹理样本的一第一数目。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |