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发明名称 Probe for testing semiconductor devices
摘要
申请公布号 KR100975143(B1) 申请公布日期 2010.08.11
申请号 KR20097023065 申请日期 2008.03.04
申请人 发明人
分类号 G01R1/067;G01R1/04;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
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