| 发明名称 | 监视光学元件的温度 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于监视光学元件(9)的温度和/或温度相关参数(尤其是折射率或导热率)的装置(26)，该光学元件设置在激光束的光束路径上且对于优选地在红外线范围内的激光波长λL的射线是透过性或部分透过性的，该装置包括：至少一个测量光源(28，34)，用于产生测量射线(29)并将其发送到光学元件(9)上；至少一个探测器(31，36)，用于探测已经通过光学元件(9，20)的测量射线(29)的至少一部分；以及连接到探测器(31，36)的评估机构(33)，其基于被探测的测量射线(29)强度与通道区域(37)中的温度和/或温度相关参数之间的预定关系来监视测量射线(29)的通道区域(37)中与被探测的测量射线(29)强度相关联的温度和/或温度相关参数。 | ||
| 申请公布号 | CN101802577A | 申请公布日期 | 2010.08.11 |
| 申请号 | CN200880022345.X | 申请日期 | 2008.06.27 |
| 申请人 | 通快激光与系统工程有限公司 | 发明人 | J·舒尔茨 |
| 分类号 | G01K11/12(2006.01)I;G02B7/18(2006.01)I | 主分类号 | G01K11/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 蔡胜利 |
| 主权项 | 一种用于监视光学元件(9，20)的温度和/或温度相关参数、尤其是折射率或导热率的装置(26，40，50)，该光学元件(9，20)设置在激光束(10)的光束路径上且对于优选地在红外线范围内的激光波长λL的射线是透过性或部分透过性的，所述装置(26，40，50)包括：-至少一个测量光源(28，34；41；51)，用于产生测量射线(29)并将其发送到光学元件(9，20)上；-至少一个探测器(31，36；43；56，57)，用于探测已经通过光学元件(9，20)的测量射线(29)的至少一部分；和-连接到探测器(31，36；43；56，57)的评估机构(33；44；58)，其基于被探测的测量射线(29)强度与通道区域(32，37)中的温度和/或温度相关参数之间的预定关系来监视测量射线(29)的通道区域(32，37)中与被探测的测量射线(29)强度相关联的温度和/或温度相关参数。 | ||
| 地址 | 德国迪琴根 | ||