GALVANICALLY ISOLATED FUNCTIONAL TEST FOR COMPONENTS
摘要
<p>Für ein Halbleiterbauelement (31) werden ein Verfahren und eine Schaltung zur Funktionsprüfung angegeben. Die Funktionsprüfung erfolgt potentialgetrennt durch Verwendung eines Transformators (33). Die Prüfung selbst basiert auf der Ermittlung der frequenzabhängigen Impedanz einer Serienschaltung (44) von Kapazitäten und Induktivitäten mit dem Halbleiterbauelement selbst. Diese Impedanz wird stark durch den Leitungszustand des Halbleiterbauelements, d.h. durch seine momentane Leit- oder Sperrfähigkeit beeinflusst.</p>
