发明名称 数控机床动态特性测试分析系统
摘要 本发明公开了一种数控机床动态特性测试分析系统,该系统针对高速数控进给系统,开发了数控机床动态特性测试分析系统,通过数据采集装置,获取机床运行中的动态信号,再进行分析,从而识别机床当前运行的状况,预测其性能发展趋势。本系统可以对机床动态性能进行不定期检测,能够对机床性能及状态做出评估和预测,以便及时地对机床做出适当的调整,以达到提高加工质量和效率的目的。
申请公布号 CN101794138A 申请公布日期 2010.08.04
申请号 CN201010145762.2 申请日期 2010.04.14
申请人 华中科技大学 发明人 吴波;胡友民;金超;何俊杰;吴传海;邢迟;胡峰;徐增柄;夏军勇
分类号 G05B19/4065(2006.01)I 主分类号 G05B19/4065(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 朱仁玲
主权项 一种数控装备动态特性测试分析系统,包括传感器子系统、二次仪表子系统、数据采集子系统和数据存储分析系统;其中,所述传感器子系统用于获取准待测数控装备的振动信号与温度信号;所述二次仪表子系统对采集到的信号进行调理,包括对信号进行滤波和放大;所述数据采集子系统采集上述经调理后的模拟信号,并将其转化为数字信号后输出给数据存储分析系统;所述数据存储分析系统用于对输入的数字信号进行存储及分析,完成状态识别并进行相应的诊断。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号