| 发明名称 | 一种传感器老化测试仪 | ||
| 摘要 | 本实用新型提出了一种传感器老化测试仪，包括：两个或两个以上传感器老化测试工位，所述传感器老化测试工位之间相互串联；所述每一传感器老化测试工位包括：传感器老化电路板，所述传感器老化电路板电连接被测传感器；主板，所述主板与所述传感器老化电路板电连接以控制所述传感器老化电路板对所述被测传感器进行老化；15针接口板，所述15针接口板与所述主板电连接以提供外接接口。本实用新型提出的传感器老化测试仪，能够实现完全自动测试，提高了工作效率，节约了工作时间。且经过老化后的传感器，其工作稳定性有很大的提高。 | ||
| 申请公布号 | CN201540337U | 申请公布日期 | 2010.08.04 |
| 申请号 | CN200920246288.5 | 申请日期 | 2009.10.19 |
| 申请人 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 发明人 | 杨雪飞;吴薇 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 张国良 |
| 主权项 | 一种传感器老化测试仪，其特征在于，包括：两个或两个以上传感器老化测试工位，所述传感器老化测试工位之间相互串联；所述每一传感器老化测试工位包括：传感器老化电路板，所述传感器老化电路板电连接被测传感器；主板，所述主板与所述传感器老化电路板电连接以控制所述传感器老化电路板对所述被测传感器进行老化；15针接口板，所述15针接口板与所述主板电连接以提供外接接口。 | ||
| 地址 | 100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号 | ||