发明名称 随机存储器失效的检测处理方法、装置和系统
摘要 本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法、装置和系统,应用于对处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理。其中,该方法包括:获取所述RAM中的程序内容,将获取的程序内容与正确的程序内容进行比对,若所述RAM中程序内容的错误率低于预定值,则使用正确的程序内容对发生错误的程序内容进行数据修复;通过检测数据修复后的CPU/DSP的数据处理情况,评估所述数据修复是否成功,若所述评估结果为数据修复失败,则通过复位的方式重新加载RAM中的程序内容进行修复。采用本发明提供的技术方案,能够在及时准确发现RAM失效的基础上进行自动修复,将RAM失效对业务的影响将至最低,并降低人工成本。
申请公布号 CN101271419B 申请公布日期 2010.08.04
申请号 CN200810066602.1 申请日期 2008.04.03
申请人 华为技术有限公司 发明人 方向
分类号 G06F11/28(2006.01)I;G11C29/44(2006.01)I 主分类号 G06F11/28(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种随机存储器RAM失效的检测处理方法,应用于对中央处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理,其特征在于,该方法包括:获取所述RAM中的程序内容,将获取的程序内容与正确的程序内容进行比对;若所述RAM中程序内容出现错误、且错误率大于或等于预定值,则通过复位的方式重新加载RAM中的程序内容进行修复;若所述RAM中程序内容出现错误、且错误率低于所述预定值,则使用正确的程序内容对发生错误的程序内容进行数据修复,并通过检测数据修复后的CPU/DSP的数据处理情况,评估所述数据修复是否成功,若所述评估结果为数据修复失败,则通过复位的方式重新加载RAM中的程序内容进行修复。
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