发明名称 | X射线系统和具有剂量面积乘积测量室的瞄准器 | ||
摘要 | 本发明涉及一种具有剂量面积乘积测量室(122)的改进的X射线系统(100)。按照本发明的X射线系统(100)具有在X射线源(110)和检测器(130)之间延伸的射程(111)。在该射程(111)中设置了分光镜(124),用于将可见光耦合到射程(111)中。此外所述X射线系统具有剂量面积乘积测量室(122),其设置在X射线源(110)和分光镜(124)之间的射程(111)中。此外本发明还涉及一种具有剂量面积乘积测量室(122)的改进的瞄准器(120)。 | ||
申请公布号 | CN101791226A | 申请公布日期 | 2010.08.04 |
申请号 | CN201010105851.4 | 申请日期 | 2010.01.26 |
申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 英戈·克莱姆 |
分类号 | A61B6/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 时永红 |
主权项 | 一种X射线系统(100),具有:在X射线源(110)和检测器(130)之间延伸的射程(111);设置在该射程(111)中的分光镜(124),用于将可见光耦合到该射程(111)中;以及剂量面积乘积测量室(122),其设置在X射线源(110)和分光镜(124)之间的射程(111)中。 | ||
地址 | 德国慕尼黑 |