内建光源之光感测器检测装置及具该装置之测试机台

摘要

本发明提供一内建光源之光感测器检测装置及具该装置之测试机台，其具有一基座及一设于该基座上之上盖，主要特征是在该上盖设有至少一发光二极体，用以作为光源至一待测光感测器中以进行测试作业。藉此，不用再需要高压放电灯以及光处理装置等组件，可大幅缩小检测装置之整体体积，亦可从而降低成本；并可加速检测速度而提升检测精度；以及减少更换光源之时间浪费。

主权项

1.一测试机台，供测试一具有复数接脚之待测光感测器，包含：一电源；一光感测器检测装置，包括：一基座，具有一供置放、并电连接该待测光感测器的承载部；及一上盖，设于该基座上方，并可相对于该基座在一供置入/移出该待测光感测器之开启位置，至一供将该待测光感测器迫紧电连接该承载部之闭合位置间移动，以及该上盖内至少具有一受该电源致能、且发光方向被设置成面向该待测光感测器之发光二极体光源；及一个接收光感测器检测装置量测讯号之控制装置。 ;2.依据申请专利范围第1项所述之测试机台，更包括一气压缸及一受该气压缸驱动、并连接且致动该上盖的机械臂。 ;3.依据申请专利范围第1项所述之测试机台，更包括一用以显示来自该控制装置资料之显示装置。 ;4.依据申请专利范围第1项所述之测试机台，更包括一用以纪录该光源照射至该承载部亮度分布资料、并供该处理器与来自该待测光感测器测得资料比对之记忆装置。 ;5.一种内建光源之光感测器检测装置，供测试一具有复数接脚之待测光感测器，包括：一基座，具有一供置放、并电连接该待测光感测器的承载部；及一上盖，设于该基座上方，并可相对于该基座在一供置入/移出该待测光感测器之开启位置，至一供将该待测光感测器迫紧电连接该承载部之闭合位置间移动，且该上盖内具有一发光方向被设置成面向该待测光感测器之发光二极体光源。 ;6.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，其中该基座承载部设有与该待测光感测器接脚对应并供电连接、供传递该待测光感测器讯号之复数导脚。 ;7.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，其中该上盖是经一枢轴枢设于该基座。 ;8.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，其中该上盖在相对该基座之一面向内凹陷形成有一凹槽，且该发光二极体是设置于该凹槽内。 ;9.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，其中该发光二极体光源包括三个分别为红、绿、蓝之发光晶粒。 ;10.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，其中该发光二极体光源为可发出白光之发光晶粒。 ;11.依据申请专利范围第9项或第10项所述之光感测器检测装置，更包括一设置于该光源与该承载部间、供分散并均匀化来自该等晶粒光束之光学组件。 ;12.依据申请专利范围第5项所述之光感测器检测装置，更包括一设置于该光源与该承载部间、供显示一影像资料之液晶显示器。;图1是习知光感测器测试机台之系统正视示意图；图2是一部份放大结构示意图，说明图1中之检测装置；图3是一结构示意图，说明本发明检测装置一较佳实施例；图4是图3基座部份俯视图，说明检测装置之基座表面；图5是一结构示意图，说明本发明检测装置另一较佳实施例；图6是一结构方块图，说明使用本发明检测装置之一测试机台；及图7是本案另一较佳实施例之结构示意图。