发明名称 检测方向与参考轴倾斜的多轴MEMS陀螺仪及其读出电路
摘要 检测方向与参考轴倾斜的多轴MEMS陀螺仪及其读出电路,所述多轴陀螺仪具有微电子机械结构(10),所述微电子机械结构(10)具有参考轴(x,y),沿着参考轴要检测的角速度(Ωx,Ωy)起作用,还具有检测元件(22a-22d),它们在相应检测方向(x1,x2)敏感,并产生作为所述角速度在所述检测方向的投影的函数的相应检测量;所述读出电路产生电子输出信号(OUT),每一个信号与所述角速度中相应的一个相关,并作为所述检测量的函数。组合级(32,32’)相对彼此电组合与检测量相关的电量,所述检测量由对于相互不同的检测方向敏感的检测元件生成,以便考虑所述检测方向相对于所述参考轴的非零倾斜角(Φ)。
申请公布号 CN101788567A 申请公布日期 2010.07.28
申请号 CN200911000019.1 申请日期 2009.11.26
申请人 意法半导体股份有限公司 发明人 C·卡米纳达;L·普兰迪
分类号 G01P9/04(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I 主分类号 G01P9/04(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 王岳;李家麟
主权项 一种用于设有微电子机械结构(10)的多轴陀螺仪(52)的读出电路(30,30’),所述微电子机械结构具有参考轴(x,y)和沿着相应检测方向(x1,x2)敏感的检测元件(22a-22d),要检测的相应角速度(Ωx,Ωy)被设计为沿着所述参考轴起作用,所述检测元件(22a-22d)被设计为生成作为所述角速度在所述相应检测方向(x1,x2)投影的函数的相应检测量;所述读出电路(30,30’)被配置为基于所述检测量,生成电输出信号(OUT),每个信号与所述角速度(Ωx,Ωy)中相应的一个相关,其特征在于包括组合级(32,32’),所述组合级(32,32’)被配置为将与由沿着相互不同的检测方向敏感的检测元件(22a-22d)生成的检测量相关的电量电组合在一起,以便考虑所述检测方向(x1,x2)相对于所述参考轴(x,y)的非零倾斜角(Φ)。
地址 意大利布里安扎
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