| 发明名称 |
Semiconductor component and method for testing the same |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1970720(A3) |
申请公布日期 |
2010.07.28 |
| 申请号 |
EP20080004059 |
申请日期 |
2008.03.05 |
| 申请人 |
MICRONAS GMBH |
发明人 |
BIDENBACH, REINER;HEBERLE, KLAUS |
| 分类号 |
G01R33/00;G01R31/28;G01R35/00 |
主分类号 |
G01R33/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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