发明名称 薄膜晶体管及制造富硅沟道层的方法
摘要 本发明公开了一种薄膜晶体管,适于配置于基板上,此薄膜晶体管包括栅极、栅绝缘层、富硅沟道层、源极与漏极。栅极配置于基板上。栅绝缘层配置于基板上以覆盖栅极。富硅沟道层配置于栅极上方,其中富硅沟道层的材料选自于由富硅氧化硅、富硅氮化硅、富硅氮氧化硅、富硅碳化硅与富硅碳氧化硅所组成的族群,且该富硅沟道层的膜层深度在10纳米(nanometers,nm)至170nm中的硅含量介于1E23atoms/cm3至4E23atoms/cm3之间。源极与漏极分别与富硅沟道层连接。本发明实施例的薄膜晶体管具有较高的载流子迁移率与稳定性,此外,本发明实施例的薄膜晶体管可使用较低的工艺温度,具有广泛的应用范围。
申请公布号 CN101789450A 申请公布日期 2010.07.28
申请号 CN201010106352.7 申请日期 2010.01.26
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 卓恩宗;刘婉懿;陈佳楷;林武雄;陈俊雄;黄伟明
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/321(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 任默闻
主权项 一种薄膜晶体管,其特征在于,所述的薄膜晶体管适于配置于一基板上,所述薄膜晶体管包括:一栅极,配置于所述基板上;一栅绝缘层,配置于所述基板上以覆盖所述栅极;一富硅沟道层,配置于所述栅极上方,其中所述富硅沟道层的材料选自于由富硅氧化硅、富硅氮化硅、富硅氮氧化硅、富硅碳化硅与富硅碳氧化硅所组成的族群,且所述富硅沟道层中的硅含量介于1E23atoms/cm3至4E23atoms/cm3之间;以及一源极与一漏极,分别与所述富硅沟道层连接。
地址 中国台湾新竹市