基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统

摘要

本实用新型涉及一种基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统，包括量子点标记试条、试条架、扫描系统、CMOS图像传感器、数据处理装置、输出显示装置、打印机、键盘和一张与试条配套的IC卡。数据处理装置读取IC卡参数后控制试条架运动，以适应扫描系统的光纤探头对试条检测带和质控带进行自动扫描，所采集的特征波长反射荧光信号经CMOS图像传感器传输给数据处理装置进行光密度识别和浓度计算，输出显示装置显示检测结果。本实用新型能快速、准确实现样品单组分和多组分定量或定性检测，还能对免疫层析反应过程进行动态监测。系统具有检测灵敏度高、结果客观、使用灵活等特点。

主权项

一种基于CMOS图像传感器的量子点标记试条定量检测系统，其特征在于：它包括量子点标记试条(1)、用于放置试条的试条架(2)、扫描系统(3)、CMOS图像传感器(13)、数据处理装置(15)、输出显示装置(16)、打印机(17)、键盘(18)和一张与试条配套的IC卡(19)：所述扫描系统(3)包括一激发光源(4)，在该激发光源(4)的输出光路上依次为入射光耦合器(5)、入射光纤(6，7)、光纤探头(8，9)、出射光纤(10，11)、出射光耦合器(12)，直至CMOS图像传感器(13)；CMOS图像传感器(13)的信号输出端与数据处理装置(15)的信号输入端相连，数据处理装置(15)分别与输出显示装置(16)、打印机(17)、键盘(18)和IC卡(19)相连；所述数据处理装置(15)与试条架(2)之间有一驱动控制电路(30，31)，所述数据处理装置(15)读取IC卡(19)参数发出指令通过该驱动控制电路(30，31)自动控制试条架(2)运动以适合扫描系统(3)的光纤探头(8，9)对试条(1)的检测带(26)和质控带(27)进行自动扫描；所述IC卡(19)贮存有被检物检测标准工作曲线和试条质控带光密度参考监控值；光源(4)发出的光经入射光耦合器(5)进入入射光纤(6，7)，入射光纤(6，7)分两束经光纤探头(8，9)分别照射到试条检测带(26)和质控带(27)上激发检测带(26)和质控带(27)的量子点标记复合物发出特征波长反射荧光，两束反射荧光信号分别经检测带和质控带相应出射光纤(10，11)、出射光耦合器(12)被CMOS图像传感器(13)接收，CMOS图像传感器(13)将光信号进行光电及模/数转换，转换后的数字信号传输给数据处理装置(15)进行存储和数据处理，数据处理装置(15)对检测带(26)和质控带(27)的特征频率荧光光密度进行自动识别、并根据IC卡(19)存贮的被检物标准工作曲线进行被检物浓度计算和技术分析，将结果传输给输出显示装置(16)。