一种自带基准的位移测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种自带基准的位移测量装置及测量方法，该装置包括设置被测点的一点光源、复合透镜、带有前后通光缝的定位框和CCD或PSD光电器件，利用点光源透过复合透镜产生一宽视场平行光，该平行光依次通过前、后两个通光缝。当在光路中有一被测标志物时，被测标志物会挡住一部分光线，在CCD或PSD靶面上产生阴影带，测量阴影带中心相对定位框后通光缝边沿位置的变化，就可获得被测物位置的变化。该方法可应用于各种大坝、桥梁、高楼和高边坡的基点的变形测量，结构简单、性价比高，并且采用非接触式测量，测量精确度高，可实时监测。

主权项

一种自带基准的位移测量装置，包括设置在监测点的光源部分和投影测量部分，光源部分包括置于复合透镜一侧焦点上的一个点光源，该点光源发出的光经复合透镜折射，在复合透镜另一侧形成宽视场平行光，其特征在于，投影测量部分包括一个定位框，定位框前、后分别设有通光缝，被测标志物置于前、后通光缝之间，平行光经过两个通光缝后，将被测标志物投影在一个CCD或PSD光电器件的靶面上形成阴影带；点光源、前、后通光缝、CCD光电器件各自的中心均在复合透镜的水平光轴内，且复合透镜、前、后通光缝、CCD光电器件四者之间的相对距离保持不变。