发明名称 METODO Y SISTEMA PARA DETERMINAR LA TASA DE NO UNIFORMIDAD DE SISTEMAS A BASE DE BOLOMETRO.
摘要 Un sistema de matriz de plano focal del tipo de bolómetro que tiene medios para determinar la tasa de no uniformidad que incluye: a. una matriz de i x j detectores de pixeles del tipo de bolómetro para detectar radiación de paisaje; b. una caja que aloja dicha matriz de detectores, teniendo dicha caja una ventana delantera que proporciona exposición al elemento detector de todos los i x j detectores de pixeles a radiación que entra del paisaje; c. al menos una porción de columna j + 1 de detectores ciegos que están blindados al paisaje por una superficie de referencia homogénea; d. circuitería de lectura para leer la indicación de la radiación de paisaje detectada por cada uno de los i x j detectores de la matriz, y para leer la indicación de la no uniformidad detectada por dichos detectores en columna (j + 1); e. un registro para registrar los valores de radiación leídos de todos los detectores dentro de la columna (j + 1); y f. una unidad de procesado para hallar la desviación estándar σ de todos los valores en dicho registro, y para compararla con un umbral predeterminado Q, donde una desviación estándar anterior Q es una indicación de una no uniformidad superior al nivel permitido.
申请公布号 ES2343134(T3) 申请公布日期 2010.07.23
申请号 ES20060700672T 申请日期 2006.01.12
申请人 SEMI-CONDUCTOR DEVICES - AN ELBIT SYSTEMS - RAFAEL PARTNERSHIP 发明人 MIZRAHI, UDI;FRAENKEL, AVRAHAM;KOPOLOVICH, ZVI;ADIN, AMNON;BIKOV, LEONID
分类号 G01J5/20 主分类号 G01J5/20
代理机构 代理人
主权项
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