发明名称 |
METODO Y SISTEMA PARA DETERMINAR LA TASA DE NO UNIFORMIDAD DE SISTEMAS A BASE DE BOLOMETRO. |
摘要 |
Un sistema de matriz de plano focal del tipo de bolómetro que tiene medios para determinar la tasa de no uniformidad que incluye: a. una matriz de i x j detectores de pixeles del tipo de bolómetro para detectar radiación de paisaje; b. una caja que aloja dicha matriz de detectores, teniendo dicha caja una ventana delantera que proporciona exposición al elemento detector de todos los i x j detectores de pixeles a radiación que entra del paisaje; c. al menos una porción de columna j + 1 de detectores ciegos que están blindados al paisaje por una superficie de referencia homogénea; d. circuitería de lectura para leer la indicación de la radiación de paisaje detectada por cada uno de los i x j detectores de la matriz, y para leer la indicación de la no uniformidad detectada por dichos detectores en columna (j + 1); e. un registro para registrar los valores de radiación leídos de todos los detectores dentro de la columna (j + 1); y f. una unidad de procesado para hallar la desviación estándar σ de todos los valores en dicho registro, y para compararla con un umbral predeterminado Q, donde una desviación estándar anterior Q es una indicación de una no uniformidad superior al nivel permitido.
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申请公布号 |
ES2343134(T3) |
申请公布日期 |
2010.07.23 |
申请号 |
ES20060700672T |
申请日期 |
2006.01.12 |
申请人 |
SEMI-CONDUCTOR DEVICES - AN ELBIT SYSTEMS - RAFAEL PARTNERSHIP |
发明人 |
MIZRAHI, UDI;FRAENKEL, AVRAHAM;KOPOLOVICH, ZVI;ADIN, AMNON;BIKOV, LEONID |
分类号 |
G01J5/20 |
主分类号 |
G01J5/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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