用于Ａ／Ｄ转换器之取样控制系统及方法;SAMPLING CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR A/D CONVERTER

摘要

本发明系关于一种用于A/D转换器之取样控制系统及方法，该取样控制系统包括：一个一次微分电路、一个二次微分电路、至少一比较电路、一判断逻辑电路、一选择器及一计数器。藉由利用判断输入讯号之一次微分讯号绝对值是否小于一第一临界值，及输入讯号之二次微分讯号绝对值是否大于或等于一第二临界值，以决定一取样时脉讯号至A/D转换器。因此，本发明之取样控制系统及方法可以依据输入讯号调整取样频率，使得经取样后之重建讯号与原讯号接近，并且可以降低平均取样频率，减少取样次数，降低重复转换资料，减少所需储存空间及功率消耗。

主权项

1.一种用于A/D转换器之取样控制系统，包括：一个一次微分电路，用以一次微分处理一类比输入讯号，以取得该类比输入讯号之一次微分讯号；一个二次微分电路，用以二次微分处理该类比输入讯号，以取得该类比输入讯号之二次微分讯号；至少一比较电路，该比较电路具有一第一比较装置及一第二比较装置，该第一比较装置用以将该一次微分讯号与一第一临界值比较，以输出至少一第一比较值；该第二比较装置用以将该二次微分讯号与一第二临界值比较，以输出至少一第二比较值；一判断逻辑电路，用以依据该第一比较值及该第二比较值，以产生一选择讯号；一选择器，用以依据该选择讯号，由复数个时脉讯号选择其中之一为一触发讯号至一A/D转换器；及一计数器，用以依据该触发讯号，计算取样之区间。 ;2.如请求项1之取样控制系统，其中该一次微分电路为一个一阶高通滤波器。 ;3.如请求项2之取样控制系统，其中该二次微分电路包括二个一阶高通滤波器。 ;4.如请求项1之取样控制系统，其中该第一比较装置包括一第一比较器及一第二比较器，该第一比较器具有一正输入端、一负输入端及一输出端，该第二比较器具有一正输入端、一负输入端及一输出端，该一次微分讯号连接至该第一比较器之该负输入端及该第二比较器之该负输入端，该第一临界值输入至该第一比较器之该正输入端，该第一临界值之负数值输入至该第二比较器之该正输入端，该第一比较器之该输出端及该第二比较器之该输出端为二第一比较值，以比较该一次微分讯号之绝对值是否小于该第一临界值。 ;5.如请求项4之取样控制系统，其中该第二比较装置包括一第三比较器及一第四比较器，该第三比较器具有一正输入端、一负输入端及一输出端，该第四比较器具有一正输入端、一负输入端及一输出端，该二次微分讯号连接至该第三比较器之该负输入端及该第四比较器之该负输入端，该第二临界值输入至该第三比较器之该正输入端，该第二临界值之负数值输入至该第四比较器之该正输入端，该第三比较器之该输出端及该第四比较器之该输出端为二第二比较值，以比较该二次微分讯号之绝对值是否大于或等于该第二临界值。 ;6.如请求项5之取样控制系统，其中该判断逻辑电路包括一互斥或闸(XOR)、一反互斥或闸(XNOR)及一及闸(AND)，其中二第一比较值输入至该互斥或闸之二输入端做互斥或运算，二第二比较值输入至该反互斥或闸之二输入端做反互斥或运算，该互斥或闸之输出及该反互斥或闸之输出分别连接至该及闸之二输入端，该及闸之输出为该选择讯号。 ;7.如请求项1之取样控制系统，其中该取样控制系统包括复数个比较电路，每一比较电路接收至少一临界值。 ;8.一种用于A/D转换器之取样控制方法，包括下列步骤：(a)一次微分处理一类比输入讯号，以取得该类比输入讯号之一次微分讯号；(b)二次微分处理该类比输入讯号，以取得该类比输入讯号之二次微分讯号；(c)比较该一次微分讯号与一第一临界值，以输出至少一第一比较值；及比较该二次微分讯号与一第二临界值，以输出至少一第二比较值；(d)依据该第一比较值及该第二比较值，以产生一选择讯号；(e)依据该选择讯号，由复数个时脉讯号选择其中之一为一触发讯号至一A/D转换器；及(f)依据该触发讯号，计算取样之区间。 ;9.如请求项8之取样控制方法，其中在步骤(a)中，一次微分处理系以一阶高通滤波处理。 ;10.如请求项8之取样控制方法，其中在步骤(b)中，二次微分处理系包括以一阶高通滤波处理两次。 ;11.如请求项8之取样控制方法，其中在步骤(c)中，系利用二比较器，分别比较该一次微分讯号与该第一临界值及该第一临界值之负数值，输出二第一比较值，以比较该一次微分讯号之绝对值是否小于该第一临界值。 ;12.如请求项8之取样控制方法，其中在步骤(c)中，系利用二比较器，分别比较该二次微分讯号与该第二临界值及该第二临界值之负数值，输出二第二比较值，以比较该二次微分讯号之绝对值是否大于或等于该第二临界值。;图1系显示本发明之取样控制系统之应用示意图；图2系显示一典型的感测器讯号示意图；图3系显示本发明第一实施例之取样控制系统之示意图；图4A系显示第一比较装置之电路示意图；图4B系显示第二比较装置之电路示意图；图4C系显示判断逻辑电路之电路示意图；图5系显示利用本发明之取样控制系统于图2讯号之取样点分布图；图6系显示利用本发明之取样控制系统及习知固定取样频率之讯号重建示意图；及图7A及7B系显示本发明第二实施例之取样控制系统之示意图。