发明名称 带有RF模块的集成电路、具有这种IC的电子设备和用于测试这种模块的方法
摘要 本发明公开了包括用于在集成电路(200)的正常工作期间处理射频(RF)信号的模块(130)在内的集成电路。IC(200)具有芯片上测试装置,用于在测试模式下产生用来对模块(130)进行测试的精确的RF测试信号。为此,测试装置包括用于在测试模式下产生射频控制信号的信号源(210);以及串联的互补晶体管对(230),所述对耦合在第一电源轨和第二电源轨之间,并用于响应提供到其控制端子的所述射频控制信号,在其输出上产生所述射频测试信号。本发明基于如果向晶体管对提供足够稳定的电源电压,可强制该对在其输出处生成在RF频率处精确的轨到轨电压摆动。该输出信号可被用来以高精确度测试RF模块(130),从而省去了使用昂贵的外部测试设备的必要。
申请公布号 CN101784904A 申请公布日期 2010.07.21
申请号 CN200880102873.6 申请日期 2008.08.14
申请人 NXP股份有限公司 发明人 杰伦·屈嫩;萨利姆·卡拉;菲利普·索莱伊;比拉勒·卡西尔;克里斯托夫·克尔马
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种集成电路(200、300),包括:用于产生射频测试信号的测试装置,所述测试装置包括:信号源(210),用于产生射频控制信号;以及互补晶体管对(230),所述互补晶体管对的晶体管(232、234)在第一电源轨和第二电源轨之间串联耦合,并响应提供到所述互补晶体管对的控制端子上的所述射频控制信号,在所述互补晶体管对的输出上产生所述射频测试信号。
地址 荷兰艾恩德霍芬