RFID标签响应频率基准测试系统及方法

摘要

本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法，该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，该方法是在保持输入能量相同的情况下，通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性，得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。

主权项

一种RFID标签响应频率的基准测试系统，包括标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机，其特征在于：信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架置于标准测试环境的内部，信号源、频谱分析仪、控制计算机置于标准测试环境的外部，信号源发射天线置于信号源天线支架上，接收天线置于接收天线支架上，待测RFID标签置于标签支架上的接收天线和信号源发射天线的辐射面几何中心位置连线上，与信号源发射天线的距离为d1，与接收天线的距离为d2，信号源发射天线与信号源、接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连，控制计算机通过数据线与信号源、频谱分析仪分别相连，控制计算机向信号源发送控制指令，使信号源发射天线输出功率和频率可控的读写器读RFID标签信号，频谱分析仪通过接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号，分析其中是否包含待测RFID标签对读写器读RFID标签信号的正确响应，如果发现正确响应的REID标签信号则将待测RFID标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录，统计后控制计算机再次发送控制指令至信号源，调整发射功率和频率后开始下一次测试。