发明名称 |
Cu掺杂p型ZnO薄膜的制备方法 |
摘要 |
本发明提供一种Cu掺杂p型ZnO薄膜的制备方法,包括如下步骤:步骤1:采用射频磁控溅射方法,将纯度为4N以上的ZnO和高纯Cu粉末混合压制成所需靶材;步骤2:在氩气和氧气混合气体环境中将靶材溅射沉积在衬底之上形成薄膜;步骤3:将形成薄膜的衬底进行退火处理,得到Cu掺杂的p型ZnO薄膜材料。本发明可以解决IB族元素难于实现p型ZnO材料制备的难题。 |
申请公布号 |
CN101781749A |
申请公布日期 |
2010.07.21 |
申请号 |
CN201010106765.5 |
申请日期 |
2010.02.03 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
杨晓丽;陈诺夫;尹志岗 |
分类号 |
C23C14/08(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/08(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
一种Cu掺杂p型ZnO薄膜的制备方法,包括如下步骤:步骤1:采用射频磁控溅射方法,将纯度为4N以上的ZnO和高纯Cu粉末混合压制成所需靶材;步骤2:在氩气和氧气混合气体环境中将靶材溅射沉积在衬底之上形成薄膜;步骤3:将形成薄膜的衬底进行退火处理,得到Cu掺杂的p型ZnO薄膜材料。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |