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发明名称 IC-TESTVERFAHREN UND VORRICHTUNG
摘要
申请公布号 AT472106(T) 申请公布日期 2010.07.15
申请号 AT20060809583T 申请日期 2006.10.12
申请人 NXP B.V. 发明人 WAAYERS, TOM
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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