发明名称 |
面接触式涡流测厚探头 |
摘要 |
本实用新型涉及一种面接触式涡流测厚探头,包括一探头接触端面,测量线圈,探头外壳,测量线圈的接线端头,探头外壳后端盖的开口处;所述探头外壳是一个带后端盖的圆管,所述圆管的后端盖有一开口处,所述的测量线圈的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出;所述的探头接触端面和所述的探头外壳连接,所述的测量线圈固定在所述的探头接触端面上。本实用新型可以测量薄金属工件面上的涂层厚度,被测薄金属工件不会因为单点受力而发生变形。同时本实用新型采用了面接触式的探头大大增加了仪器的稳定性和良好重复性。 |
申请公布号 |
CN201527259U |
申请公布日期 |
2010.07.14 |
申请号 |
CN200920163884.7 |
申请日期 |
2009.07.06 |
申请人 |
李长青 |
发明人 |
李长青;李长锋;苏文玉;姜威;翟玉生;侯施娆 |
分类号 |
G01B7/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01B7/06(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
涡流测厚探头,其特征在于:包括一探头接触端面(1),测量线圈(2),探头外壳(3),测量线圈的接线端头(4),探头外壳后端盖的开口处(5);所述探头外壳(3)是一个带后端盖的圆管,所述圆管的后端盖有一开口处(5),所述的测量线圈的接线端头(4)从所述圆管的后端盖开口处(5)穿出;所述的探头接触端面(1)和所述的探头外壳(3)连接,所述的测量线圈(2)固定在所述的探头接触端面(1)上;所述的测量线圈(2)是空心线圈。测量线圈(2)安装在探头壳体(3)中。 |
地址 |
100102 北京市朝阳区望京南湖中园203楼2门402室 |