| 发明名称 | 一种水样中痕量污染物的光度分析方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种水样中痕量污染物的光度分析方法，包括以下步骤：a、将定量的待测水样、与待测污染物匹配的试剂导入反应单元内；待测水样和试剂在反应单元生成反应产物；b、带有反应产物的反应液通过富集单元，反应产物与富集单元内的载体结合并在载体上富集；c、光度检测单元检测所述富集单元，从而得到水样中待测污染物的含量或浓度。本发明还公开了一种应用上述分析方法的分析装置。本发明具有测量灵敏度高、对检测单元要求低等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN101776581A | 申请公布日期 | 2010.07.14 |
| 申请号 | CN200910156637.9 | 申请日期 | 2009.12.29 |
| 申请人 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 发明人 | 项光宏;霍玉美;王健 |
| 分类号 | G01N21/31(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/31(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种水样中痕量污染物的光度分析方法，包括以下步骤：a、将定量的待测水样、与待测污染物匹配的试剂导入反应单元内；待测水样和试剂在反应单元生成反应产物；b、带有反应产物的反应液通过富集单元，反应产物与富集单元内的载体结合并在载体上富集；c、光度检测单元检测所述富集单元，从而得到水样中待测污染物的含量或浓度。 | ||
| 地址 | 310052浙江省杭州市滨江区滨安路760号 | ||