发明名称 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统
摘要 本发明公开一种高速运动状态下的电子标签性能测试方法及系统,该系统由待测电子标签,测试装置,测试设备组成,利用上述系统实现的方法包括:首先将待测电子标签放置在高速电子标签测试装置的转盘上,利用测试装置上的软件控制系统和电器系统,高速转动转盘,模拟电子标签高速运动,同时读写器向运动中的待测电子标签发送查询指令,观察电子标签对指令的响应情况,从而得出高速运动状态下的标签性能指标。通过该测试系统,提供在实验室环境下测试高速运动电子标签性能的方法,对标签的生产、使用起到关键指导作用。测试装置上的屏蔽罩用于增加或减少转盘暴露范围,有助于提高测试结果的正确性和测试过程的安全性。
申请公布号 CN101777136A 申请公布日期 2010.07.14
申请号 CN200910242344.2 申请日期 2009.12.09
申请人 中国科学院自动化研究所 发明人 谭杰;赵红胜;朱智源
分类号 G06K17/00(2006.01)I;G06K19/00(2006.01)I 主分类号 G06K17/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 梁爱荣
主权项 一种高速运动状态下电子标签测试系统,其特征在于,由待测电子标签、测试装置和测试设备组成,其中:所述测试装置包括:转盘、屏蔽罩、电机、支撑台和控制器;电机安装在支撑台上,电机的转轴与转盘中心处固定连接;控制器的控制端与电机的控制端连接,电机执行控制器发出的控制命令而转动;所述待测电子标签固接于转盘上;转盘和待测电子标签位于屏蔽罩内;所述测试设备包括:读写器、测试天线和计算机;计算机与控制器通过USB接口或RS232串口连接,计算机通过USB接口或RS232串口向控制器发生控制命令,从而改变与控制器相连的电机行为;计算机通过RS232串口或网口与读写器连接,通过串口或网口,计算机控制读写器发起查询指令;测试天线固接于紧固件上,紧固件是由对超高频射频信号不敏感的材质构成;测试天线与读写器通过串口连接连接;测试天线和待测电子标签通过空基以射频连接,读写器内含的控制程序可以对待测电子标签的响应指令作出分析。
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