发明名称 METODO DE TESTEO MAGNETICO Y APARATO DE TESTEO MAGNETICO
摘要 Un aparato de testeo magnetico (100) est  provisto con un dispositivo magnetizador (1) que aplica un campo magnetico giratorio a un material a ser testeado, un dispositivo detector (2) que detecta una senal de testeo, y un dispositivo procesador de senal (3) que aplica un procesamiento de senal a la senal de testeo. El dispositivo magnetizador aplica una corriente alterna obtenida mediante la superposicion de una primera corriente y una segunda corriente que tiene una frecuencia inferior que la primera corriente como una corriente de excitacion. El dispositivo procesador de senal est  provisto con un primer dispositivo detector sincronico (31) que detecta sincronicamente una senal de testeo mediante el empleo de la primera corriente como una senal de referencia, un segundo dispositivo detector sincronico (32) que detecta sincronicamente una senal de salida del primer dispositivo detector sincronico mediante el empleo de la segunda corriente como una senal de referencia de manera de extraer una senal de falla examinada, y un dispositivo exhibidor de imagen de testeo (34) que exhibe una imagen de testeo en la cual cada uno de los pixeles presenta un nivel de grises correspondientes a una intensidad de la senal de falla examinada en cada una de las posiciones del material a ser testeado, y una fase de la senal de falla examinada en cada una de las posiciones es capaz de ser identificada.
申请公布号 AR071797(A1) 申请公布日期 2010.07.14
申请号 AR2009P101747 申请日期 2009.05.14
申请人 SUMITOMO METAL INDUSTRIES, LTD. 发明人 SUZUMA, TOSHIYUKI;IMANISHI, KENJI
分类号 (IPC1-7):G01N27/82 主分类号 (IPC1-7):G01N27/82
代理机构 代理人
主权项
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