发明名称 | 一种土壤测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种土壤测量方法,包括以下步骤:a、利用XRF土壤分析仪测量土壤标样,建立并储存如下关系:待测元素的浓度C与Fe元素的特征线荧光强度I<sub>Fe</sub>、待测元素的特征线荧光强度I的关系:<img file="200910156633.0_AB_0.GIF" wi="114" he="35" />;b、光源发出的X射线照射在待测土壤上;c、探测器接收待测土壤发出的X射线荧光,得到待测土壤的谱数据;d、处理单元分析出所述谱数据中Fe元素的特征线荧光强度I<sub>Fe</sub>及待测元素的特征线荧光强度I,并利用所述关系<img file="200910156633.0_AB_0.GIF" wi="114" he="35" />,从而得到排除土壤湿度影响的待测元素的浓度C。本发明具有操作简便快捷、测量准确性高、应用范围广等优点。 | ||
申请公布号 | CN101776622A | 申请公布日期 | 2010.07.14 |
申请号 | CN200910156633.0 | 申请日期 | 2009.12.29 |
申请人 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 发明人 | 王宏;夏阿林;郭生良;寿淼均;叶华俊 |
分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种土壤测量方法,包括以下步骤:a、利用XRF土壤分析仪测量土壤标样,建立并储存如下关系:待测元素的浓度C与Fe元素的特征线荧光强度IFe、待测元素的特征线荧光强度I的关系: <mrow> <mi>C</mi> <mo>=</mo> <mi>f</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>I</mi> <mo>,</mo> <msub> <mi>I</mi> <msub> <mi>F</mi> <mi>e</mi> </msub> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mo>;</mo> </mrow>b、光源发出的X射线照射在待测土壤上;c、探测器接收待测土壤发出的X射线荧光,得到待测土壤的谱数据;d、处理单元分析出所述谱数据中Fe元素的特征线荧光强度IFe及待测元素的特征线荧光强度I,并利用所述关系 <mrow> <mi>C</mi> <mo>=</mo> <mi>f</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>I</mi> <mo>,</mo> <msub> <mi>I</mi> <msub> <mi>F</mi> <mi>e</mi> </msub> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mo>,</mo> </mrow>从而得到排除土壤湿度影响的待测元素的浓度C。 | ||
地址 | 310052浙江省杭州市滨江区滨安路760号 |