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经营范围
发明名称
Halbleiterbaustein und Testverfahren dafür
摘要
申请公布号
DE602006014485(D1)
申请公布日期
2010.07.08
申请号
DE20066014485T
申请日期
2006.10.16
申请人
NEC ELECTRONICS CORP.
发明人
SAKAI, SHINGO
分类号
G01R31/30;G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04;H03K5/13
主分类号
G01R31/30
代理机构
代理人
主权项
地址
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