发明名称 全透明AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及其制作方法
摘要 本发明公开了一种采用透明低电阻率ZnO作栅和源、漏电极的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及其制作方法,它涉及到微电子技术领域,主要解决现有AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管不能应用于全透明领域,及现有全透明晶体管特性差的问题。该器件按生长顺序依次包括GaN缓冲层、本征GaN层、Al0.3Ga0.7N层、GaN帽层和源、漏、栅电极,其中源、漏电极和栅电极均采用掺杂Al2O3的透明ZnO材料,衬底采用透明的双面抛光蓝宝石。源、漏、栅电极在GaN帽层上通过磁控溅射的方法淀积,源区和漏区域进行Si+离子注入,以辅助源区和漏区欧姆接触的形成。本发明具有全透明,高特性的优点,可用于透明领域的抗辐照电路中的电子元件。
申请公布号 CN101771076A 申请公布日期 2010.07.07
申请号 CN201010013536.9 申请日期 2010.01.04
申请人 西安电子科技大学 发明人 王冲;郝跃;马晓华;张进城;曹艳荣;杨凌
分类号 H01L29/778(2006.01)I;H01L29/43(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I 主分类号 H01L29/778(2006.01)I
代理机构 陕西电子工业专利中心 61205 代理人 王品华;朱红星
主权项 一种AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管,依次包括蓝宝石衬底、GaN缓冲层、本征GaN层、Al0.3Ga0.7N层和GaN帽层,帽层上设有源电极、漏电极和栅电极,其特征在于源电极、漏电极和栅电极均采用透明的ZnO材料,蓝宝石衬底采用透明双面抛光蓝宝石,以实现器件全透明。
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