发明名称 |
具有能散检测技术的波长色散X荧光分析仪 |
摘要 |
本实用新型公开一种具有能散检测技术的波长色散X荧光分析仪,属于利用X射线进行材料分析的测量设备技术领域。它包括装设在一机箱内的X光管及X射线发生装置、真空测量室、连接有探测器的一个或多个固定元素道分光器、由控制电路板卡等构成的自动控制系统、数字采集装置,以及置于机箱外和真空测量室连通的抽真空系统、与自动控制系统和检测装置电连接的带显示器和打印机的计算机,并在另外一固定元素道中装设能谱探测装置。本实用新型在多道谱仪上,增加一个能谱通道,实现了波长色散和能量色散的第一次结合,结构紧凑,操作过程简单,一次送样同时测量元素的数量可增加到几十个,大大减少了工作量,提高了检测分析的效率。 |
申请公布号 |
CN201522463U |
申请公布日期 |
2010.07.07 |
申请号 |
CN200920246654.7 |
申请日期 |
2009.10.23 |
申请人 |
北京邦鑫伟业技术开发有限公司 |
发明人 |
吴娜;高华;余正东;秦志立;张军涛 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
鲁兵 |
主权项 |
一种具有能散检测技术的波长色散X荧光分析仪,包括装设在一机箱内的X光管及X射线发生装置、真空测量室、连接有探测器的一个或多个固定元素道分光器、由控制电路板卡等构成的自动控制系统、数字采集装置,以及置于机箱外和真空测量室连通的抽真空系统、与自动控制系统和检测装置电连接的带显示器和打印机的计算机,其特征在于:在另外一固定元素道中装设能谱探测装置。 |
地址 |
102200 北京市昌平区科技园区37号4号楼5层南区 |