发明名称 |
锂二次电池的寿命推测方法和劣化抑制方法、寿命推测器和劣化抑制器、使用它们的电池组、充电器 |
摘要 |
本发明涉及锂二次电池的寿命推测方法,其中,在伴随着充放电循环进行的过程中,至少检测2次仅以不同的循环数进行充放电时的锂二次电池的放电后的开路时的电压。接着,将各电压值中的至少2个值相对于各循环数进行作图。然后,描画通过了各作图点的圆弧,基于该圆弧的大小来推测锂二次电池的寿命。基于该寿命推测来控制锂二次电池的充电和放电,从而能控制劣化的进行。 |
申请公布号 |
CN101772709A |
申请公布日期 |
2010.07.07 |
申请号 |
CN200880101948.9 |
申请日期 |
2008.12.11 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
宇贺治正弥;山本泰右 |
分类号 |
G01R31/36(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/36(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈建全 |
主权项 |
一种锂二次电池的寿命推测方法,该锂二次电池包含:具有能嵌入和脱嵌锂离子的正极活性物质的正极、具有含有硅和锡中的至少一种元素的负极活性物质的负极、以及具有锂离子传导性并介于所述正极与所述负极之间的电解质,该锂二次电池的寿命推测方法具备下述步骤:A步骤:在伴随着充放电循环进行的过程中,至少检测2次仅以不同循环数进行充放电时的所述锂二次电池的放电后的开路时的电压;B步骤:将所述A步骤中所检测到的各电压值中的至少2个值相对于各循环数作图;C步骤:描画通过了所述B步骤的各作图点的圆弧;以及D步骤:基于所述C步骤中所描画的圆弧的大小来推测所述锂二次电池的寿命。 |
地址 |
日本大阪府 |