发明名称 Test socket with interposed substrate
摘要
申请公布号 KR200449396(Y1) 申请公布日期 2010.07.07
申请号 KR20080002490U 申请日期 2008.02.25
申请人 发明人
分类号 G01R1/067;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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