发明名称 基于ARM的高精度温度校验方法及仪器
摘要 本发明基于ARM的高精度温度校验方法及仪器涉及温度计量检测技术领域,本发明采用了比例-模糊自整定PID控制方式从而解决目前工业电加热炉温度控制中精度和稳定度低,抗干扰能力不佳等问题。本发明主要包括设定温度并检测实际温度获得温度偏差,基于温度偏差进行比例-模糊自整定PID控制外部加热,本发明的比例-模糊自整定PID控制部分由移植了Linux2.6操作系统并开发了系统软件的基于ARM9的硬件平台完成。本发明特别适用于对滞后及无超调系统,且要求高精度、高稳定性的工业温度控制系统。
申请公布号 CN101769800A 申请公布日期 2010.07.07
申请号 CN201010112130.6 申请日期 2010.02.04
申请人 北京印刷学院 发明人 李晋尧
分类号 G01K15/00(2006.01)I;G01K7/18(2006.01)I;G05B11/42(2006.01)I 主分类号 G01K15/00(2006.01)I
代理机构 北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 代理人 曾永珠
主权项 一种基于ARM的高精度温度校验方法,包括:步骤一,输入设定的温度并检测实际温度操作;步骤二,设定温度与实际温度进行比较,得到温度偏差信号并进行预处理操作;步骤三,基于温度偏差信号进行控制运算操作,获得控制信号;步骤四,由获得的控制信号对可控硅的导通角进行控制,可控硅的输出进一步控制外部加热器,其特征在于,所述的控制运算操作为比例-模糊自整定比例积分微分控制。
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