发明名称 |
基于ARM的高精度温度校验方法及仪器 |
摘要 |
本发明基于ARM的高精度温度校验方法及仪器涉及温度计量检测技术领域,本发明采用了比例-模糊自整定PID控制方式从而解决目前工业电加热炉温度控制中精度和稳定度低,抗干扰能力不佳等问题。本发明主要包括设定温度并检测实际温度获得温度偏差,基于温度偏差进行比例-模糊自整定PID控制外部加热,本发明的比例-模糊自整定PID控制部分由移植了Linux2.6操作系统并开发了系统软件的基于ARM9的硬件平台完成。本发明特别适用于对滞后及无超调系统,且要求高精度、高稳定性的工业温度控制系统。 |
申请公布号 |
CN101769800A |
申请公布日期 |
2010.07.07 |
申请号 |
CN201010112130.6 |
申请日期 |
2010.02.04 |
申请人 |
北京印刷学院 |
发明人 |
李晋尧 |
分类号 |
G01K15/00(2006.01)I;G01K7/18(2006.01)I;G05B11/42(2006.01)I |
主分类号 |
G01K15/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 |
代理人 |
曾永珠 |
主权项 |
一种基于ARM的高精度温度校验方法,包括:步骤一,输入设定的温度并检测实际温度操作;步骤二,设定温度与实际温度进行比较,得到温度偏差信号并进行预处理操作;步骤三,基于温度偏差信号进行控制运算操作,获得控制信号;步骤四,由获得的控制信号对可控硅的导通角进行控制,可控硅的输出进一步控制外部加热器,其特征在于,所述的控制运算操作为比例-模糊自整定比例积分微分控制。 |
地址 |
102600北京市大兴区兴华北路25号 |