测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备

摘要

本发明提供测量细胞的物理性质值的方法和物理性质测量设备。首先，对作为测量对象的细胞的形状进行模拟，并且，通过数值分析获得在对细胞施加交流电场时的复数电容率响应(步骤S1)。在改变膜电容Cm和细胞质电导率κi的值的同时基于该结果进行数值计算，从而计算介电谱(步骤S2)。将这样计算的介电谱转换为介电弛豫表达式，从而获得相对电容率的增量Δε和弛豫时间τ(步骤S3)。接下来，获得(Δε，τ)对(Cm，κi)的依赖，从而产生与作为测量对象的细胞的形状相对应的回归表达式(步骤S4)。实际上测量细胞的介电谱，将所得到的时间测量的值与回归表达式相互比较，从而获得作为测量对象的细胞的膜电容Cm，exp和细胞质电导率κi，exp(步骤S5)。

主权项

一种测量细胞的物理性质值的方法，包含：计算过程，用于通过设置任意的膜电容Cm和任意的细胞质电导率κi计算关于具有特定形状的细胞的介电谱，从而进行数值分析；获得过程，用于通过将介电谱回归为介电弛豫表达式来获得所述细胞的相对电容率的增量Δε和弛豫时间τ；以及产生过程，用于基于相对电容率的增量Δε和弛豫时间τ产生与所述细胞的形状相对应的回归表达式。