发明名称 Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung und Testanschlussanordnungsverfahren
摘要 Eine integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung umfasst eine Spalte von ersten Logikschaltungszellen, die entlang einer ersten Seite eines Chips angeordnet sind, und eine Spalte von zweiten Logikschaltungszellen, die entlang einer zweiten Seite orthogonal zu der ersten Seite angeordnet sind. An einem Eckteil, wo die erste Seite die zweite Seite schneidet, ist eine erste Testlogikschaltungszelle angeordnet, sodass ihre lange Seite einer Seite einer Zelle an dem Endbereich der Spalte der ersten Logikschaltungszellen gegenüberliegt, und eine zweite Logikschaltungszelle ist angeordnet, sodass ihre lange Seite einer Seite einer Zelle an einem Endbereich der Spalte der zweiten Logikschaltungszellen gegenüberliegt. Die ersten und die zweiten Testlogikschaltungszellen sind so angeordnet, dass ihre Flächenformen symmetrisch (spiegelsymmetrisch) zueinander hinsichtlich einer virtuellen Linie zwischen den schrägen Seiten, die einander gegenüberliegend angeordnet sind, sind.
申请公布号 DE102009040613(A1) 申请公布日期 2010.07.01
申请号 DE20091040613 申请日期 2009.09.08
申请人 NEC ELECTRONICS CORP. 发明人 MOMOSE, TAKAYUKI
分类号 H01L21/822;G01R31/28;G06F17/50;H01L23/544;H01L27/118 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人
主权项
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