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发明名称 Testvorrichtung und Testverfahren für eine integrierte Halbleiterschaltung
摘要
申请公布号 DE10045671(B4) 申请公布日期 2010.07.01
申请号 DE20001045671 申请日期 2000.09.15
申请人 ADVANTEST CORP. 发明人 ISHIDA, MASAHIRO;YAMAGUCHI, TAKAHIRO;HASHIMOTO, YOSHIHIRO
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/12;G01R31/26;G01R31/30;G01R31/3177;G01R31/319 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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