发明名称 | 1.5T SONOS快速闪存存储器单元结构 | ||
摘要 | 本发明公开了一种1.5T SONOS快速闪存存储器单元结构,该存储器单元由一个SONOS晶体管和一个闪存单元选择场管构成,其中SONOS晶体管和闪存单元选择场管共用一个门栅极,该门栅极为存储单元的字线端,位于该门栅极左边的N型源漏注入区域为存储单元的位线端,位于该门栅极右边的N型源漏注入区域为源线端,SONOS晶体管为ONO介质层栅氧结构,闪存单元选择场管为氧化物介质层栅氧结构。本发明简化了存储器单元结构并减小了存储器单元面积,能大幅的节约芯片的面积,节省制造成本。 | ||
申请公布号 | CN101764132A | 申请公布日期 | 2010.06.30 |
申请号 | CN200810044175.7 | 申请日期 | 2008.12.24 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 陈广龙;杨斌 |
分类号 | H01L27/115(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/115(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 顾继光 |
主权项 | 一种1.5T SONOS快速闪存存储器单元结构,其特征在于,该存储器单元由一个SONOS晶体管和一个闪存单元选择场管构成,其中SONOS晶体管和闪存单元选择场管共用一个门栅极,该门栅极为存储单元的字线端,位于该门栅极左边的N型源漏注入区域为存储单元的位线端,位于该门栅极右边的N型源漏注入区域为源线端,SONOS晶体管为ONO介质层栅氧结构,闪存单元选择场管为氧化物介质层栅氧结构。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |