| 发明名称 | 一种消除光照影响的前景提取方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种能够消除光照影响的前景提取方法。本发明针对现有技术的目标检测方法容易受到光照影响，准确性低的问题，公开了一种消除光照影响的前景提取方法，以消除光照带来的影响，提高视频图像中目标检测的准确性。本发明的技术方案是，一种消除光照影响的前景提取方法，包括以下步骤：a、采集前一帧图像和当前帧图像；b、提取采集图像的边沿图像，得到前一帧图像的边沿图像和当前帧图像的边沿图像；c、将前一帧图像的边沿图像和当前帧图像的边沿图像作差分运算，得到前景区域边沿图像；d、对前景区域边沿图像进行降噪处理，得到目标轮廓。本发明非常适合于固定区域的背景图像中提取目标轮廓，如ATM机周边环境的监控等。 | ||
| 申请公布号 | CN101763513A | 申请公布日期 | 2010.06.30 |
| 申请号 | CN201010114921.2 | 申请日期 | 2010.02.26 |
| 申请人 | 成都三泰电子实业股份有限公司 | 发明人 | 白云 |
| 分类号 | G06K9/46(2006.01)I;G06K9/40(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/46(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都虹桥专利事务所 51124 | 代理人 | 李顺德 |
| 主权项 | 一种消除光照影响的前景提取方法，包括以下步骤：a、采集前一帧图像和当前帧图像；b、提取采集图像的边沿图像，得到前一帧图像的边沿图像和当前帧图像的边沿图像；c、将前一帧图像的边沿图像和当前帧图像的边沿图像作差分运算，得到前景区域边沿图像；d、对前景区域边沿图像进行降噪处理，得到目标轮廓。 | ||
| 地址 | 610091 四川省成都市金牛区高科技产业园区蜀西路42号 | ||