发明名称 |
Verfahren zur Herstellung eines Mehr-Gatetransistors mit homogen silizidierten Stegendbereichen |
摘要 |
In einem Mehr-Gatetransistor sind die mehreren Stege des Drain oder des Source des Transistors elektrisch miteinander mittels eines gemeinsamen Kontaktelements verbunden, wobei auch eine bessere Gleichmäßigkeit der entsprechenden Kontaktgebiete mittels eines verbesserten Silizidierungsprozesses erreicht wird. Zu diesem Zweck werden die Stege in ein dielektrisches Material eingebettet, in welchem eine geeignete Kontaktöffnung gebildet wird, so dass Endflächen der Stege freigelegt werden, die dann als Silizidierungsoberflächenbereiche dienen.
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申请公布号 |
DE102008059500(A1) |
申请公布日期 |
2010.06.24 |
申请号 |
DE20081059500 |
申请日期 |
2008.11.28 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
BEYER, SVEN;PRESS, PATRICK;GIEDIGKEIT, RAINER;HOENTSCHEL, JAN |
分类号 |
H01L21/283;H01L21/336;H01L27/12;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/283 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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