METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE LAYER THICKNESS OF PARTIALLY SOLIDIFIED MELTS

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung der Schichtdicke von teilerstarrten Schmelzen, insbesondere auf einem Transportband, im Rahmen eines Bandgießverfahrens. Zur Bestimmung der Schichtdicke werden magnetische Felder verwendet, die mit Hilfe von vorhandenen elektromagnetischen Rührspulen auf einer Seite der Schicht erzeugt werden. Das abgeschwächte magnetische Feld wird dann auf der anderen Seite der Schicht detektiert und zur Berechnung der Schichtdicke verwendet.