| 发明名称 | 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测量大气纳米粒子粒谱的方法，采用离子迁移管，大气以微孔进样，在离子迁移管的漂移区内形成发散性小的离子束，同时在漂移区内施以负压，其压力为0.1-0.5大气压，实现实时测量大气纳米粒子粒谱的目的。本发明采用离子迁移谱，通过设计微进样的分流器，缩短迁移管长度，提高迁移场强，减小带电离子的扩散损失，从而实现对大气纳米粒子粒谱的实时测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101750264A | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
| 申请号 | CN200810229879.1 | 申请日期 | 2008.12.17 |
| 申请人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明人 | 王卫国;李海洋;董璨;杜永斋 |
| 分类号 | G01N15/00(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人 | 马驰;周秀梅 |
| 主权项 | 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法，其特征在于：采用离子迁移管，大气以微孔进样，在离子迁移管的漂移区内形成发散性小的离子束，同时在漂移区内施以负压，其压力为0.1-0.5大气压，实现实时测量大气纳米粒子粒谱的目的。 | ||
| 地址 | 116023 辽宁省大连市中山路457号 | ||