| 发明名称 | 面向集成电路测试的测试数据转换方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对J750系列测试机实施，包括如下步骤：(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；(2)根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；(3)在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下。本方法能够批量处理测试过程中产生的数据，可以做到完全自动化，无需人工干预。 | ||
| 申请公布号 | CN101364219B | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
| 申请号 | CN200710120008.1 | 申请日期 | 2007.08.06 |
| 申请人 | 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 | 发明人 | 刘炜;郑忠林;吉国凡;张琳;王慧;金兰;孙博;石志刚;赵智昊;陈希;孙杨 |
| 分类号 | G06F17/30(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人 | 陈曦 |
| 主权项 | 一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对J750系列测试机实施，其特征在于包括如下步骤：(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；(2)根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；(3)在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下；(4)在执行完毕后，在wafer log日志文件中写入表示数据转换完毕的信息，所述wafer log日志文件是对已经完成数据处理的晶片进行记录的文件。 | ||
| 地址 | 100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层 | ||