一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路

摘要

接触式智能卡与外界通信时，数据传输的管脚通常使用开漏PAD。开漏PAD的输出从低电平到高电平的转换由上拉电阻完成，导致电平上升时间较长，输出传输速率不高。接触式智能卡芯片的测试电路设计中，为了减少管脚，测试结果输出通常复用通信用的数据传输管脚。但开漏输出对传输速率的影响，使测试的时间加长，增加成本。本发明提出一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路，可以使数据输出管脚在测试模式下工作于强驱动状态，有效提升测试速度。

主权项

一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路，其特征在于智能卡芯片的数据管脚使用三态双向PAD，通过控制PAD的输入端与输出控制端，达到提高测试数据输出速度的目的，选用带上拉电阻的三态双向PAD(1)作为数据传输管脚，三态双向PAD由三态门(6)和上拉电阻(7)两部分构成，选择器(2)和选择器(3)有两路输入，分别来自测试电路模块(4)和ISO/IEC 7816模块(5)，芯片内部的测试电路模块(4)输出的test_mode信号，作为两个选择器的控制端，控制选择两路输入中的一路作为输出。