模拟多个存储装置的测试装置及其测试方法

摘要

本发明提供一种模拟多个存储装置的测试装置及其测试方法，以测试计算机装置的多个第一存储装置连接器，计算机装置通过上述这些第一存储装置连接器发出多个第一存取指令至测试装置，以模拟对上述这些存储装置的多个存取区段执行存取操作。测试装置包括控制单元与测试存取区段。控制单元耦接测试存取区段，且接收上述这些第一存取指令。测试存取区段用以模拟上述这些存取区段，使得控制单元响应上述这些第一存取指令，并对测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。本发明采用内存来提供一存取区段，内存相对于硬盘有读写速度快的特点，因此测试速度快。内存相较于硬盘，其体积小、抗振性佳、不易损坏，故可降低生产测试成本。

主权项

一种模拟多个存储装置的测试装置，用以测试计算机装置的多个第一存储装置连接器，上述计算机装置通过上述这些第一存储装置连接器发出多个第一存取指令至上述测试装置，以模拟对上述这些存储装置的多个存取区段执行存取操作，其特征是，上述测试装置包括：多个第二存储装置连接器，用以耦接上述这些第一存储装置连接器，且接收上述这些第一存取指令；控制单元，分别耦接上述这些第二存储装置连接器；以及测试存取区段，耦接上述控制单元，且用以模拟上述这些存取区段，使得上述控制单元响应上述这些第一存取指令，并对上述测试存取区段执行上述这些第一存取指令的存取操作。