发明名称 场效应晶体管
摘要 公开了一种HJFET 110,其包括:由InyGa1-yN(0≤y≤1)构成的沟道层12;由AlxGa1-xN(0≤x≤1)构成的载流子供应层13,所述载流子供应层13提供在所述沟道层12上方并且包括至少一个p型层;以及源电极15S、漏电极15D和栅电极17,它们设置成通过所述p型层面向所述沟道层12,并提供在所述载流子供应层13上方。满足下面的关系表达式:5.6×1011x<NS×η×t[cm-2]<5.6×1013x,其中x表示所述载流子供应层的Al组分比例,t表示所述p型层的厚度,NA表示杂质浓度,以及η表示活化比率。
申请公布号 CN101416290B 申请公布日期 2010.06.23
申请号 CN200780012035.5 申请日期 2007.03.29
申请人 日本电气株式会社 发明人 安藤裕二;宫本广信;中山达峰;冈本康宏;井上隆;村濑康裕;大田一树;分岛彰男;黑田尚孝
分类号 H01L21/338(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L29/812(2006.01)I;H01L29/417(2006.01)I 主分类号 H01L21/338(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 孙志湧;穆德骏
主权项 一种场效应晶体管,其包括:由InyGa1-yN构成的沟道层,其中0≤y≤1;由AlxGa1-xN构成的载流子供应层,所述载流子供应层提供在所述沟道层的上方并且包括至少一个p型层,其中0<x≤1;以及源电极、漏电极和栅电极,所述源电极、漏电极和栅电极被设置成通过所述p型层面向所述沟道层,并提供在所述载流子供应层的上方,其中,满足下面的关系表达式:[数学公式1]5.6×1011x<NA×η×t[cm-2]<5.6×1013x,其中,x表示所述载流子供应层的Al组分比例,t表示所述p型层的厚度,NA表示所述p型层的杂质浓度,以及η表示所述p型层的活化比率。
地址 日本东京