发明名称 | 折射率测量装置 | ||
摘要 | 一种光学测量技术领域的折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其中:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接。本发明可测量任意性质的流体且不存在测量折射率上限的问题,结构简单,成本低,易于操作。 | ||
申请公布号 | CN101750399A | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
申请号 | CN201010300122.4 | 申请日期 | 2010.01.08 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 邵朵;陈险峰;田凌浩;陈婧非 |
分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人 | 王锡麟;王桂忠 |
主权项 | 一种折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其特征在于:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区东川路800号 |