发明名称 二维电扫描透镜天线
摘要 本发明提出一种结构牢固且紧凑的用于扫描雷达的二维电扫描透镜天线,包括:铁电体透镜天线和一维线阵馈源,铁电体透镜天线包括导体平板,在相邻的导体平板之间夹有铁电体介质板,在铁电体透镜天线上设有二元衍射透镜,且二元衍射透镜位于一维线阵馈源与铁电体透镜天线之间,在一维线阵馈源上连接有N路通道选择开关,一维线阵馈源发射或接收的电磁波的极化方向与所述导体平板的长边方向垂直。这种天线通过一个N路通道选择开关和N路电压控制系统来实现二维电扫描,扫描控制部分比起两片FEL组成的扫描系统要简单。BDL是平面结构,既有效地降低了天线的重量和剖面,又可以与平面结构的FEL无缝连接,有利于获得结实、紧凑的结构。
申请公布号 CN101752662A 申请公布日期 2010.06.23
申请号 CN201010018311.2 申请日期 2010.01.13
申请人 东南大学 发明人 王宗新;尤立志
分类号 H01Q3/46(2006.01)I 主分类号 H01Q3/46(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 黄雪兰
主权项 一种二维电扫描透镜天线,包括:铁电体透镜天线(1)和一维线阵馈源(3),铁电体透镜天线(1)包括导体平板(11),在相邻的导体平板(11)之间夹有铁电体介质板(12),其特征在于,在铁电体透镜天线(1)上设有二元衍射透镜(2),且二元衍射透镜(2)位于一维线阵馈源(3)与铁电体透镜天线(1)之间,在一维线阵馈源(3)上连接有N路通道选择开关(4),一维线阵馈源(3)发射或接收的电磁波的极化方向与所述导体平板(11)的长边方向垂直。
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