| 发明名称 | 用于确定转换能力的设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于确定转换元件的转换能力的设备、用于执行这些测量的方法以及采用所述设备和所述方法生产具有基本上相同色点的pcLED的方法。所述设备包括光源(5)、样品座(6)和探测元件(7)，其中光源(5)用初级光(41)来照射该样品座(6)，该样品座(6)对于初级光(41)至少局部透明，适合于安装能将初级光(41)部分地转换成二级光(42)的大量转换元件(3)且包括合适的防止装置(62，62a，62b，62c，62d，62e)以防止二级光(42)从一个安装的转换元件(3)通过样品座(6)到另一个安装的转换元件(3)的光引导，且探测元件(7)适合于单独地针对每个转换元件(3)测量初级光和二级光(41，42)的强度。 | ||
| 申请公布号 | CN101755199A | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
| 申请号 | CN200880025046.1 | 申请日期 | 2008.07.14 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | H·贝克特尔;P·施米特 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 龚海军;谭祐祥 |
| 主权项 | 一种用于确定大量转换元件(3)的光转换能力的设备，其包括光源(5)、样品座(6)和探测元件(7)，其中-所述光源(5)适合于用初级光(41)来照射所述样品座(6)，-所述样品座(6)对于初级光(41)至少局部透明，适合于安装能将所述初级光(41)部分地转换成二级光(42)的大量转换元件(3)，且包括合适的防止装置(62，62a，62b，62c，62d，62e)以防止所述二级光(42)从一个安装的转换元件(3)通过所述样品座(6)到另一个安装的转换元件(3)的光引导，以及-所述探测元件(7)适合于单独地针对每个转换元件(3)测量初级光和二级光(41，42)的强度。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||