发明名称 | 测定方法及测定系统 | ||
摘要 | 本发明的测定方法,具备:在地表等的表面附上线的步骤;沿该线对包含该线的预定测定范围进行测定的步骤;将包含该预定测定范围的范围的图象作为图象数据而取得的步骤;将该图象数据和测定数据叠合的步骤;根据上述图象数据中的线位置和线附近的测定数据来运算上述线的测定数据的步骤。 | ||
申请公布号 | CN1693854B | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
申请号 | CN200510070146.4 | 申请日期 | 2005.04.30 |
申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 大友文夫;大谷仁志 |
分类号 | G01C15/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C15/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
主权项 | 一种表面形状测定方法,其特征在于,具备:在希望取得表面的断面形状的位置上附上是直线的线的步骤;以规定间隔在包含有上述表面上绘制的线的范围进行测定的步骤;将包含该范围的图象作为图象数据而取得的步骤;将该图象数据和测定数据叠合的步骤;根据上述图象数据中的线位置和线附近的上述测定数据来运算上述线的测定数据的步骤。 | ||
地址 | 日本东京都 |