一种基于半导体测试数据的数据处理方法

摘要

本发明涉及一种基于半导体测试数据的数据处理方法，首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在该被处理系统中中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正并存入数据库中。本发明的数据处理方法，极大地减少了人工处理的时间，降低了需要人工处理的可能，同时提高了被处理系统中数据的及时性和正确性，做到了简单、快速、方便，使工程师能及时看到正确的数据做出分析，从而改善产品质量。

主权项

一种基于半导体测试数据的数据处理方法，其特征在于：首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正存入数据库中。